SiC MOSFET短路時間相比IGBT短很多,英飛凌CoolSiC™ MOSFET單管保證3us的短路時間,Easy模塊保證2us的短路時間,因此要求驅動電路和的短路響應迅速而精確。今天,我們來具體看一下這個短而精的程度。 圖1是傳統典型的驅動晶片退飽和檢測原理,晶片內置一個恆流源。功率開關器件在門極電壓一定時,發生短路後,電流不斷增加,導致器件VCE電壓迅速提升至母線電壓,高壓二極體被阻斷,恆流源電流向電容CDESAT充電,當上電容CDESAT的電壓被恆流源充至大於比較器參考電壓後,觸發驅動器關閉輸出。這樣在每一次IGBT開通的初始瞬間,即使VCE還沒有來得及下降進入飽和狀態,電容CDESAT上的電壓也不會突變。恆流源將電容CDESAT充電至比較器參考電壓需要一段時間,這段時間我們叫它消隱時間,它直接影響了短路保護的時間。消隱時間可由下式進行計算: ![]() ![]() ![]() <表1> ![]() ![]() <圖2> ![]() 因為要適配碳化矽器件的額短路保護,追求快的短路保護時間,所以選用56pF作為CDESAT電容,且假設容值的偏差是10%,即+/-5.6pF。
那麼TSC=9/500μ*56p=1.008μs, ∆?=9/500μ*5.6p+56p/500μ*0.7+ 56p*9/(500μ)²*50μ=0.28μs, TDESATleb=400ns,TDESATOUT=350ns 則,TSCOUT=1.008+0.28+0.4+0.35=2.03us
通過以上計算可以看到,使用傳統的退飽和短路檢測,2us的短路響應時間就是一個非常極限的值了。根據經驗,電路板的布線電容可能都會由50pF呢,所以才選56pF來計算而沒有用更小值。
接下來再來看一下英飛凌的新產品1ED34XX在短路檢測時間上有怎樣的不同之處。這款產品還是退飽和短路檢測的思路,但是可以不需要使用消隱電容了,如圖3。它的短路保護時序由圖4展示。其中最初的消隱時間TDESATleb是可以通過外圍電阻配置,得到固定且精準的400ns、650ns或者1150ns,偏差在10%以內。然後就正常開通電壓,如果發生短路情況,VCE迅速上升到達閾值,繼而進入一個濾波時間TDESATfilter,它的值也可以通過外圍電阻配置的,可以得到分布在225ns~3975ns區間裡的9個時間之一,偏差也在10%以內。 ![]() <圖3> ![]() <圖4> 這樣1ED34XX總的短路時間為: ![]() 其中333ns是晶片感知短路到晶片輸出關斷信號的系統延時。雖然該晶片也是可以外加電容來增加短路保護時間的,上面式子裡的TSC就是電容帶來的時間,過程在之前1ED020I12-F2的短路說明里介紹過了。不過為了滿足碳化矽MOS的短路保護時間,我們選擇使用最小時間配置,也就是不使用外置電容,另外也把規格書里的偏差時間(表2)考慮上。可以得出: ![]() SCOUT=0.4+0.225+333=0.958us (不考慮偏差) TSCOUT=(0.4+0.044)+(0.225+0.038+0.333+0.049)=1.089us (考慮最大偏差) |