本篇我們將介紹如何使用MITSUMI ELECTRIC製造的電池保護IC評估板來評估共漏極MOSFET。我們將著重描述SSM6N951L、SSM10N954L和SSM14N956L在搭配三美馬達電池保護IC（MM3860）的鋰離子二次電池保護電路中的應用。 首先是量測方式和測量細節。表1.列出了保護 IC 的偵測電壓和恢復電壓，並以圖 1. 所示的電路進行測量。在測試過程中，當穩壓電源的電壓固定，且電流保持在 1A 時，電池單元的容量會發生變化。 對於過充電偵測和恢復電壓，從 VDD=3.6V 開始，逐漸提高電壓來測量 COUT 的 MOSFET 是否在過充電偵測電壓時關閉，從而停止充電電流的流動。然後，當 VDD 逐漸降低，COUT 的 MOSFET 應在過充電恢復電壓時導通，此時會測量充電電流重新開始流動的情況。 對於過放電偵測和恢復電壓，從 VDD=3.6V 開始，逐漸降低電壓來測量 DOUT 的 MOSFET 是否在過放電檢測電壓處關閉，從而停止充電電流的流動。接著，當 VDD 逐漸升高，DOUT 的 MOSFET 應在過放電恢復電壓時導通，此時會測量充電電流是否開始流動。  表1. Detection/Recovery Voltage for Overcharging and Overdischarging(註1:Propose MOSFET Optimized for Protection Circuitry of Lithium-Ion Batteries Used in Mobile Devices )  圖1. Overcharge Voltage Measurement Circuit (Left) and Overdischarge Voltage Measurement Circuit (Right) (註1:Propose MOSFET Optimized for Protection Circuitry of Lithium-Ion Batteries Used in Mobile Devices ) 接下來為測量結果首先我們展示過充電測量結果,測試波形顯示於圖2.。對於SSM6N951L、SSM10N954L和SSM14N956L的MOSFET，當檢測到過充電壓時，MOSFET會關閉，而在壓力恢復正常時，MOSFET則會導通。  圖2. Overcharge Voltage Measurement Results (註1:Propose MOSFET Optimized for Protection Circuitry of Lithium-Ion Batteries Used in Mobile Devices ) 上述已經介紹過充電測試,接下來我們展示過放電測量：過充電測量結果顯示在圖3.。對於SSM6N951L、SSM10N954L和SSM14N956L等MOSFET的過充電測量，當過放電電壓達到偵測到的恢復電壓時，MOSFET會導通。  圖3. Overdischarge Voltage Measurement Results (註1:Propose MOSFET Optimized for Protection Circuitry of Lithium-Ion Batteries Used in Mobile Devices ) 本篇我們已將展示了SSM6N951L、SSM10N954L和SSM14N956L應用在電池保護應用中的過電壓波形和測試結果,下一篇我們將介紹過電流的測試。 |
