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失效机制及版图设计技巧

2015-4-22 12:44| 发布者: 闪电| 查看: 99| 评论: 0

摘要: 知识点一 电过应力 电过应力(EOS)是指由对器件施加过大电压或电流而引起的失效。版图预防措施可以减小4种常见类型EOS失效发生的可能性:静电泄放(ESD)、电迁徙、介质击穿及天线效应。 1.静电泄放 静电泄放是由 ...


    3.雪崩诱发β衰减

    双极型晶体管的发射结雪崩会显著地减少其β值。

    影响:雪崩诱发β衰减在集电极电流较小时会引起β减小,但在中等或大集电极电流的情况下对β值没有明显影响。

    防护措施:增大掺杂、减小器件发射结反偏电压额定值、ESD箝位保护。

    4.负偏置温度不稳定性

    定义:当栅极相对源极和背栅负偏时,该机制引起阀值电压的逐渐漂移,高温会加剧该过程。

    影响:当PMOS晶体管的栅极相对硅来说为负偏时,将产生负偏置温度不稳定性;当PMOS晶体管的栅极相对硅来说为正偏时,将产生正偏置温度不稳定性。

    防护措施:实践中通过改进的操作技术减小栅氧化层在潮湿空气中的暴露时间,可以减少负偏置温度不稳定性,而正偏置温度不稳定性不会引起太多问题,通过简单的电路调整可以避免。



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