在我們的傳統印象中,電機驅動系統往往採用IGBT作為開關器件,而SiC MOSFET作為高速器件往往與光伏和電動汽車充電等需要高頻變換的應用相關聯。 但在特定的電機應用中,SiC仍然具有不可比擬的優勢,他們是: 1 低電感電機 2 高速電機 3 惡劣工況 傳統的電機驅動中,往往使用IGBT作為開關器件。 那麼,SiC MOSFET相對於Si IGBT有哪些優勢,使得它更適合電機驅動應用? 首先,從開關特性角度看,功率器件開關損耗分為開通損耗和關斷損耗。 ➤ 關斷損耗 ➤ 開通損耗 IGBT開通瞬間電流往往會有過沖,這是反並聯二極體換流時產生的反向恢復電流。 反向恢復電流疊加在IGBT開通電流上,增加了器件的開通損耗。 IGBT的反並聯二極體往往是Si PiN二極體,反向恢復電流比較明顯。 而SiC MOSFET的結構里天然集成了一個體二極體,無需額外並聯二極體。 SiC體二極體參與換流,它的反向恢復電流要遠低於IGBT反並聯的矽PiN二極體,因此,即使在同樣的dv/dt條件下,SiC MOSFET的開通損耗也低於IGBT。 另外,SiC MOSFET可以使得伺服驅動器與電機集成在一起,從而摒除線纜上dv/dt的限制,高dV/dt條件下,SiC的開關損耗會進一步降低,遠低於IGBT。 即使是開關過程較慢時,碳化矽的開關損耗也優於IGBT。 ![]() 此外,SiC MOSFET的開關損耗基本不受溫度影響,而IGBT的開關損耗隨溫度上升而明顯增加。 因此高溫下SiC MOSFET的損耗更具優勢。 再考慮dv/dt的限制,相同dv/dt條件下,高溫下SiC MOSFET總開關損耗會有50%~60%的降低,如果不限制dv/dt,SiC開關總損耗最高降低90%。 ![]() 從導通特性角度看: SiC MOSFET導通時沒有拐點,很小的VDS電壓就能讓SiC MOSFET導通,因此在小電流條件下,SiC MOSFET的導通電壓遠小於IGBT。 大電流時IGBT導通損耗更低,這是由於隨著器件壓降上升,雙極性器件IGBT開始導通,由於電導調製效應,電子注入激發更多的空穴,電流迅速上升,輸出特性的斜率更陡。 對應電機工況,在輕載條件下,SiC MOSFET具有更低的導通損耗。 重載或加速條件下,SiC MOSFET導通損耗的優勢會有所降低。 ![]() CoolSiC™ MOSFET在各種工況下導通損耗降低 下面通過一個實例研究,實際驗證SiC MOSFET在電機驅動中的優勢。 ![]() 假定以下工況,對比三款器件: IGBT IKW40N120H3,SiC MOSFET IMW120R060M1H和IMW120R030M1H。 ➤測試條件 Vdc=600V, VN,out=400V, IN,out=5A–25A, fN,sin-out=50Hz, fsw=4-16kHz, Tamb=25°C, cos(φ)N=0.9, Rth,HA=0.63K/W, dv/dt=5V/ns M=1,Vdc=600V, fsin=50Hz, RG@dv/dt=5V/ns, fsw=8kHz,線纜長度5m, Tamb=25°C 可以看出,基於以上工況,同樣的溫度條件下,30mohm的器件輸出電流比40A IGBT提高了10A,哪怕換成小一檔的60mohm SiC MOSFET,輸出電流也能提升約5A。 而相同電流條件下,SiC MOSFT的溫度明顯降低。 綜上所述,SiC開關器件能為電機驅動系統帶來的益處總結如下:
最後,英飛凌CoolSiC™能保證單管3us,Easy模塊2us的短路能力,進一步保證系統的安全性與可靠性。 |